Titre : | Microanalyse selective en rayons x au voisinage d'un seuil d'absorption : comment obtenir des resultats quantitatifs grand champ par microscopie de contact x |
Auteurs : | EMMANUEL BIGLER |
Type de document : | Thèse-Mémoire |
Editeur : | ORSAY : UNIVERSITE DE PARIS-SUD - CENTRE D'ORSAY, 1982 |
Format : | 195 P. |
Note générale : | THESE DE 3E CYCLE |
Langues: | Français |
Concepts : |
ANALYSE PHYSIQUE
OPTIQUE MICROANALYSE MICROSCOPIE RAYONS X ANALYSE QUANTITATIVE ABSORPTION TRAITEMENT DU SIGNAL SPECTROSCOPIE |
Résumé : | La spécificité de la méthode est de donner, sous forme d'image, la carte de la répartition d'un élément chimique, et ceci sur des champs pouvant atteindre plusieurs cm. On obtient ainsi une information structuralee d'ensemble. Plus précisément, il s'agit de microanalyse d'absorption en rayons X combinant 2 processus: la microscopie de contact X pour obtenir des images, et la spectroscopie sélective d'absorption X au voisinage d'un seuil pour analyser l'échantillon. I Microscopie X, microscopie de contact. II Microanalyse d'absorption X. III Traitement des images en vue de la microanalyse. Résultats de microanalyse. |
Exemplaires (1)
Cote | Support | Section | Disponibilité |
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RES 8207 | Texte imprimé | Réserve | Disponible |